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簡要描述：快速測量，僅需1-2s即可完成一次測量；大范圍膜厚測量，可測量膜厚范圍從15nm-70μm；常規操作只需點擊一個按鈕即可運行，操作簡便；適用于工業現場，穩定可靠；能夠滿足膜厚的常規測量，經濟實用
所在城市：無錫市 廠商性質：生產廠家更新日期：2021-06-22訪 問 量：120詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,石油,能源,電子 |
FM100-SE薄膜厚度測量儀能夠快速測量，僅需1-2s即可完成一次測量；大范圍膜厚測量，可測量膜厚范圍從15nm-70μm；常規操作只需點擊一個按鈕即可運行，操作簡便；適用于工業現場，穩定可靠；能夠滿足膜厚的常規測量，經濟實用
FM100-SE薄膜厚度測量儀產品參數：
快速測量：最大典型12寸晶圓（即直徑300mm）
膜厚測量范圍：15nm-75μm（對Si上的SiO2樣品）
膜層數目：1-4層
膜厚測量重復性：0.1nm(對Si上100nm的SiO2樣品)
準確度：2nm或0.4%（對Si上的SiO2樣品）
FM100-SE薄膜厚度測量儀能夠快速測量，僅需1-2s即可完成一次測量；大范圍膜厚測量，可測量膜厚范圍從15nm-70μm；常規操作只需點擊一個按鈕即可運行，操作簡便；適用于工業現場，穩定可靠；能夠滿足膜厚的常規測量，經濟實用
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